新華社北京8月8日電（記者魏夢佳）北京大學科維理天文與天體物理研究所的研究團隊近日在國際權威天文期刊《天體物理學雜志增刊》上發(fā)表了一項新成果。研究人員通過機器學習方法并使用國內外5臺光學望遠鏡觀測發(fā)現(xiàn)并證實了204個銀道面背景類星體，其中191個為首次發(fā)現(xiàn)。
銀道面是銀河系內絕大部分恒星所在區(qū)域形成的盤狀平面。類星體是一種看起來類似恒星但實際上是在極其遙遠距離外的高光度天體。其中心的超大質量黑洞通過吸積周圍氣體物質釋放巨大能量，因此對研究超大質量黑洞的形成和演化至關重要。
據(jù)悉，過去數(shù)十年來，盡管類星體巡天取得了很大進展，但在天區(qū)覆蓋范圍上仍然存在不足。大型類星體巡天主要關注北天的高銀緯天區(qū)，通常不覆蓋銀道面天區(qū)，再加上銀道面方向上嚴重的塵埃消光、紅化以及密集的星場，使尋找銀道面背景類星體十分困難。這些因素導致觀測到的銀道面背景類星體樣本較少，因而難以對銀道面天體測量系統(tǒng)誤差進行準確估計。
圖為類星體在銀道坐標系中的分布，紅色方框代表此次通過光譜觀測發(fā)現(xiàn)的204個銀道面背景類星體。（由受訪者提供）
高精度的天體測量數(shù)據(jù)對研究銀道面天體十分重要。為此，北京大學科維理天文與天體物理研究所吳學兵教授和傅煜銘博士所在的團隊，構建了一種基于遷移學習的銀道面背景類星體選源方法，利用機器學習算法訓練分類模型，最終確定了16萬多個銀道面背景類星體候選體。
從2018年起，該團隊通過與國內外研究團隊合作，利用中國、美國、澳大利亞的5臺天文望遠鏡，對銀道面背景類星體候選體開展光譜觀測證認工作。
吳學兵教授介紹，較大的銀道面背景類星體樣本有助于建立更好的天體測量參考架，提高銀道面天體測量的精度，便于更好地了解銀河系的結構和運動學性質。“此次研究結果驗證了我們對銀道面背景類星體選源方法的有效性，將類星體的系統(tǒng)搜尋拓展到了銀道面方向的密集星場區(qū)域，為后續(xù)大樣本的銀道面背景類星體巡天打下了堅實基礎。”他說。
該團隊預期，在未來兩年中將證認約200個位于銀緯5度以內的背景類星體，并通過我國郭守敬望遠鏡的光譜巡天證認上千個銀緯20度以內的背景類星體。此外，銀道面背景類星體候選體的天體測量應用研究也正在開展中。
